Domov > Izdelki > Integrirana vezja (ICS) > Logic - Posebnost Logic > SN74BCT8373ADW
Zahtevaj ponudbo
Slovenija
264127

SN74BCT8373ADW

Zahtevaj ponudbo

Prosimo, izpolnite vsa potrebna polja s svojimi kontaktnimi podatki. Klik "Pošlji RFQ" Kmalu vas bomo kontaktirali po e -pošti.Ali nam pošljite e -pošto:info@ftcelectronics.com

Referenčna cena (v ameriških dolarjih)

Na zalogi
75+
$9.233
Povpraševanje na spletu
Specifikacije
  • Številka dela
    SN74BCT8373ADW
  • Proizvajalec / znamka
  • Količina zalog
    Na zalogi
  • Opis
    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • Status svobodnega statusa / RoHS
    Brez svinca / RoHS
  • ECAD model
  • Napajalna napetost
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Paket naprave za dobavitelja
    24-SOIC
  • Serija
    74BCT
  • Pakiranje
    Tube
  • Paket / primer
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Druga imena
    SN74BCT8373ADWE4
    SN74BCT8373ADWE4-ND
    SN74BCT8373ADWG4
    SN74BCT8373ADWG4-ND
  • delovna temperatura
    0°C ~ 70°C
  • Število bitov
    8
  • Tip montaže
    Surface Mount
  • Raven občutljivosti na vlago (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Proizvajalec Standardni čas vodenja
    6 Weeks
  • Vrsta logike
    Scan Test Device with D-Type Latches
  • Status svobodnega statusa / RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • natančen opis
    Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
  • Številka osnovnega dela
    74BCT8373
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi

Review (1)

Izberi jezik

Kliknite prostor za izhod