Domov > Izdelki > Integrirana vezja (ICS) > Logic - Posebnost Logic > SN74ABT8652DW
Zahtevaj ponudbo
Slovenija
5979487

SN74ABT8652DW

Zahtevaj ponudbo

Prosimo, izpolnite vsa potrebna polja s svojimi kontaktnimi podatki. Klik "Pošlji RFQ" Kmalu vas bomo kontaktirali po e -pošti.Ali nam pošljite e -pošto:info@ftcelectronics.com

Referenčna cena (v ameriških dolarjih)

Na zalogi
1+
$12.72
20+
$11.688
100+
$9.871
500+
$8.781
1000+
$8.054
Povpraševanje na spletu
Specifikacije
  • Številka dela
    SN74ABT8652DW
  • Proizvajalec / znamka
  • Količina zalog
    Na zalogi
  • Opis
    IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
  • Status svobodnega statusa / RoHS
    Brez svinca / RoHS
  • ECAD model
  • Napajalna napetost
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Paket naprave za dobavitelja
    28-SOIC
  • Serija
    74ABT
  • Pakiranje
    Tube
  • Paket / primer
    28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Druga imena
    296-33634-5
    SN74ABT8652DW-ND
    SN74ABT8652DWE4
    SN74ABT8652DWE4-ND
    SN74ABT8652DWG4
    SN74ABT8652DWG4-ND
  • delovna temperatura
    -40°C ~ 85°C
  • Število bitov
    8
  • Tip montaže
    Surface Mount
  • Raven občutljivosti na vlago (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Proizvajalec Standardni čas vodenja
    6 Weeks
  • Vrsta logike
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
  • Status svobodnega statusa / RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • natančen opis
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
  • Številka osnovnega dela
    74ABT8652
SN74ABT8646DWRG4

SN74ABT8646DWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8952DLR

SN74ABT8952DLR

Opis: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8952DL

SN74ABT8952DL

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8652DLRG4

SN74ABT8652DLRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8646DWRE4

SN74ABT8646DWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8646DW

SN74ABT8646DW

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8646DLR

SN74ABT8646DLR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8996DWR

SN74ABT8996DWR

Opis: IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8652DWRG4

SN74ABT8652DWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8652DLR

SN74ABT8652DLR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8646DWR

SN74ABT8646DWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8996DW

SN74ABT8996DW

Opis: IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8652DWR

SN74ABT8652DWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8652DL

SN74ABT8652DL

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8952DWR

SN74ABT8952DWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8952DLRG4

SN74ABT8952DLRG4

Opis: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8646DLG4

SN74ABT8646DLG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8652DLG4

SN74ABT8652DLG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi
SN74ABT8652DWRE4

SN74ABT8652DWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Proizvajalci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na zalogi

Review (1)

Izberi jezik

Kliknite prostor za izhod